首頁>>產(chǎn)品展示>>AOI>>DIP缺陷檢測/終檢
設備原理：
通過上下兩個高精度相機，對同一塊板卡移動拍照，采取卷積神經(jīng)網(wǎng)絡算法處理圖像，智能判定元器件不良和焊錫不良。
檢測T/B雙面元器件的錯漏反及焊錫缺陷。
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